Rad nije dostupan
disertacija
Određivanje gubitaka i nadomjesne temperature silicija učinskog bipolarnog tranzistora s izoliranom upravljačkom elektrodom

Ivan Bahun (2005)
Sveučilište u Zagrebu
Fakultet elektrotehnike i računarstva
Citirajte ovaj rad...

Bahun, I. (2005). Određivanje gubitaka i nadomjesne temperature silicija učinskog bipolarnog tranzistora s izoliranom upravljačkom elektrodom (Disertacija). Preuzeto s https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:146431

Bahun, Ivan. "Određivanje gubitaka i nadomjesne temperature silicija učinskog bipolarnog tranzistora s izoliranom upravljačkom elektrodom." Disertacija, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, 2005. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:146431

Bahun, Ivan. "Određivanje gubitaka i nadomjesne temperature silicija učinskog bipolarnog tranzistora s izoliranom upravljačkom elektrodom." Disertacija, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, 2005. https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:146431

Bahun, I. (2005). 'Određivanje gubitaka i nadomjesne temperature silicija učinskog bipolarnog tranzistora s izoliranom upravljačkom elektrodom', Disertacija, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, citirano: 16.07.2019., https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:146431

Bahun I. Određivanje gubitaka i nadomjesne temperature silicija učinskog bipolarnog tranzistora s izoliranom upravljačkom elektrodom [Disertacija]. Zagreb: Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva; 2005 [pristupljeno 16.07.2019.] Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:146431

I. Bahun, "Određivanje gubitaka i nadomjesne temperature silicija učinskog bipolarnog tranzistora s izoliranom upravljačkom elektrodom", Disertacija, Sveučilište u Zagrebu, Fakultet elektrotehnike i računarstva, Zagreb, 2005. Dostupno na: https://urn.nsk.hr/urn:nbn:hr:168:146431